Дефектоскоп электроискровой Крона-1РМ предназначен для контроля сплошности полимерных и эпоксидных покрытий магистральных трубопроводов. Используется для оснащения передвижных лабораторий и изоляционных машин, в системах автоматического сплошного контроля изоляционных покрытий магистральных трубопроводов.

МВП-2М многофункциональный вихретоковый прибор для измерения проводимости, ферритной фазы, толщины покрытий и пр. Базовый комплект для использования в качестве ферритометра.

Дефектоскоп электролитический Константа ЭД2 предназначен для контроля пористости и нарушений сплошности диэлектрических покрытий на изделиях из электропроводящих материалов.

Ультразвуковой низкочастотный дефектоскоп А1220 МОНОЛИТ предназначен для поиска инородных включений, пустот и трещин внутри изделий и конструкций из железобетона, камня, пластмасс и подобных им материалов при одностороннем доступе к объекту контроля, измерения толщины изделий из бетона, исследования внутренней структуры крупнозернистых материалов.

Дефектоскоп электроискровой КРОНА-2И предназначен для контроля сплошности полимерных, эпоксидных, эмалевых и битумных изоляционных покрытий магистральных трубопроводов в процессе их строительства. Обеспечивает выявление локальных сквозных нарушений (дефектов) сплошности изоляционных покрытий трубопроводов с сухой поверхностью.

Портативный дефектоскоп на постоянных магнитах МД-4П (МД-4К) для магнитопорошковой дефектоскопии.

Предназначен для определения длины свай, обнаружения и локализации дефектов, а также для получения сейсмоспектрального профиля. Прибор может использоваться в качестве одноканальной сейсмостанции. Его работа базируется на сейсмоспектральном методе и специализированных методиках обработки информации, позволяющих расширить область применения прибора.

А 1550 IntroVisor – многоканальный высокочастотный ультразвуковой томограф для контроля металлов. Обеспечивает визуализацию внутренней структуры объекта контроля, высокую скорость контроля. Прибор дает возможность работать как в томографическом режиме, так и в режиме классического дефектоскопа с применением обычных преобразователей. В основе работы лежит принцип динамической фокусировки луча (DDF), реализованный с помощью алгоритма SAFT.