Дефектоскоп электроискровой Крона-2ИМ предназначен для контроля сплошности полимерных, эпоксидных, эмалевых, и битумных изоляционных покрытий магистральных трубопроводов в процессе укладки и ремонта. Обеспечивает сплошной контроль трубопроводов диаметром от 57 до 1420 мм и выборочный контроль защитных покрытий изделий любого размера.

МВП-2М многофункциональный вихретоковый прибор для измерения проводимости, ферритной фазы, толщины покрытий и пр. Базовый комплект для использования в качестве ферритометра.

МВП-2М многофункциональный вихретоковый прибор для измерения проводимости, ферритной фазы, толщины покрытий и пр. Универсальный комплект для использования и в качестве ферритометра и в качестве измерителя электропроводности.

МВП-2М многофункциональный вихретоковый прибор для измерения проводимости, ферритной фазы, толщины покрытий и пр. Базовый комплект поставки для измерения электропроводности.

МВП-2М многофункциональный вихретоковый прибор для измерения проводимости, ферритной фазы, толщины покрытий и пр. Экспертный комплект поставки для использования в качестве ферритометра, измерителя электропроводности и толщиномера покрытий.

Портативный дефектоскоп на постоянных магнитах МД-4П (МД-4К) для магнитопорошковой дефектоскопии.

Дефектоскоп МД-М предназначен для проведения неразрушающего контроля изделий из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40. Используется для контроля в авиационной, автомобильной, железнодорожной и других видах техники магнитопорошковым методом с целью выявления поверхностных и подповерхностных дефектов в их материале. Стандартная комплектация.

Дефектоскоп МД-М предназначен для проведения неразрушающего контроля изделий из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40. Используется для контроля в авиационной, автомобильной, железнодорожной и других видах техники магнитопорошковым методом с целью выявления поверхностных и подповерхностных дефектов в их материале. Комплект для проведения контроля с помощью метода магнитных частиц в видимом свете.